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UTX750 X荧光光谱仪
UTX750 X荧光光谱仪(测厚仪,RoHS检测仪)
分析范围:1PPM-99.99%  准确度:相对误差5%以内
 精密度:相对标准差5%以内 检出限:1PPM
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 UTX750 X荧光光谱仪性能特点

2021欧洲杯分组简介:

· 完美的检测性能指标

        ·多种准直器和滤光机制可供选择

        ·简易手动样品台,Z轴升降调节,操作简单

        ·人性化软件界面设计,易学易懂,更方便人员操作

        ·探测器采用先进的电制冷方式,无需液氮制冷,增加安全性

 元素含量
 
分析指标

 分析范围:1PPM-99.99%  准确度:相对误差5%以内
 
精密度:相对标准差5%以内 检出限:1PPM 

 测试软件

 基本参数法

 X光管

 50W(4-50KV  0 -1.0mA)标配

 对焦系统

 镭射对焦

 探测器

 硅锂半导体探测器

 测量方向

 从上向下

 滤光器

 一次滤光

 样品台

 简易手动样品台,Z轴升降调节,操作简单

 准直器

 Ф8mmФ3mmФ2mm1mmФ0.5mm
Ф0.2mm
Ф0.1mmmulti- collimators  Options

 可测元素

 kU

 定性功能

 自动标示存在元素

 定量功能

 出厂前完成标定曲线,客户直接测试,无需标样

 样品观察

 CCD高精度彩色摄像头

 测试时间

 60-300

 软件

 RoHS软件,镀层测厚软件

 配套

 标准液体测量杯

 稳压系统

 UPS稳压电源

 数据处理 

 MS-Word

 电脑

 联想电脑

 重量

 80千克

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上海迈哲电子科技有限公司